現(xiàn)代精密制造中，當(dāng)需要確定整個(gè)表面的平整度，單線掃描儀和三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x都因?yàn)闇y(cè)量的數(shù)據(jù)量太少而無(wú)法滿足要求，我們的FlaTester平面度測(cè)量?jī)x可以在幾秒鐘內(nèi)非接觸地測(cè)量零件的整個(gè)表面，不同尺寸和復(fù)雜形狀均可測(cè)量。
FlaTester的分辨率達(dá)到5nm，準(zhǔn)確度為50nm。保證可以快速、精確測(cè)量平面度、線形、半徑等各種表面參數(shù)，并且適用于多種材料和表面處理方式。
